1、測(cè)試條件對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

首先考慮測(cè)量條件的問(wèn)題，對(duì)于不同容值的貼片電容會(huì)采用不同的測(cè)試條件來(lái)測(cè)量容值，主要在測(cè)試電壓的設(shè)定和測(cè)試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，下表所示為不同容值的量測(cè)條件:

電容

AC 電壓

頻率

容量>10μF

1.0± 0.2Vrms

120Hz

1000pF<容量≦10μF

1.0± 0.2Vrms

1kHz

容量≦ 1000pF

1.0± 0.2Vrms

1MHz

2、測(cè)量?jī)x器的差異對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.

大容量的電容（通常指1UF以上）測(cè)量時(shí)更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電容兩端的實(shí)際電壓不能達(dá)到測(cè)試條件所需求的電壓，這是因?yàn)榧釉陔娙輧啥说臏y(cè)試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測(cè)量結(jié)果誤差降到最低,我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測(cè)的電壓盡量調(diào)整,使實(shí)際于待測(cè)電容上輸?shù)某鲭妷阂恢隆?/p>

注意： 上表中所示的電壓是指實(shí)際加在測(cè)試電容兩端的有效電壓（理想電壓）。

由于測(cè)試儀器的原因，加在電容兩端實(shí)際的輸出電壓與設(shè)定的測(cè)量電壓(理想電壓）實(shí)際上可能會(huì)有所出入。

3、影響高容量電容容值測(cè)量偏低的因素

（1） 測(cè)試儀器內(nèi)部的阻抗之大小影響.

由于不同的測(cè)試儀器之間的內(nèi)部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測(cè)試電容兩端的實(shí)際電壓變小。在實(shí)際的測(cè)試過(guò)程中，我們有必要先使用萬(wàn)用表等工具測(cè)試夾具兩端的實(shí)際電壓，以確定加在測(cè)試貼片電容兩端的輸出電壓。

（2）不同阻抗的測(cè)試儀器的輸出電壓對(duì)比如下：

儀器內(nèi)阻100Ω

1V * [100Ω/(100Ω+16Ω)] = 0.86V

10uF測(cè)試電容的兩端電壓 ：